论文编号: 1725110120150173
第一作者所在部门: 微电子重点实验室
论文题目: Evolution of conductive filament and its impact on reliability issues in oxide-electrolyte based resistive random access memory
论文题目英文:
作者: 吕杭炳
论文出处:
刊物名称: Scientific Reports
: 2015
: 5
: 7764
: 1-6
联系作者: 刘明
收录类别:
影响因子: 5.578
摘要:
英文摘要:
外单位作者单位:
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