论文编号: 1725110120160275
第一作者所在部门:
论文题目: Impact of the Effective Work Function Gate Metal on the Low-Frequency Noise of Gate-All-Around Silicon-on-Insulator NWFETs
论文题目英文:
作者: 方雯
论文出处:
刊物名称: IEEE Eletrcon Device Letters
: 2016
: 37
: 4
: 363
联系作者: Eddy Simoen
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