论文编号: 1725110120160110
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论文题目: Remote interfacial dipole scattering on electron mobility degradation in Ge field-effect-transistor with GeOx/Al2O3 gate dielectrics
论文题目英文:
作者: 王晓磊
论文出处:
刊物名称: J.Phys. D
: 2016
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: 49
: 1
联系作者: 王文武
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