论文编号: 1725110120150169
第一作者所在部门: EDA中心
论文题目: Two-dimensional parasitic capacitance extraction for integrated circuit with dual discrete geometric methods
论文题目英文:
作者: 任但
论文出处:
刊物名称: Journal of Semiconductors
: 2015
: 36
: 4
: 045008-1-045008-7
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收录类别:
影响因子: 0.4084
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