论文编号: 1725110120160323
第一作者所在部门:
论文题目: Fully CMOS Compatible 3D Vertical RRAM with Self-aligned Self-selective Cell enabling sub-5nm scaling
论文题目英文:
作者: 许晓欣
论文出处:
刊物名称: VLSI Technology, 2016 IEEE Symposium on
: 2016
:
: 1
: 2158
联系作者: 刘明,吕杭炳
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