| 论文编号: | 1725110120160248 |
| 第一作者所在部门: | |
| 论文题目: | Accurate lifetime prediction for channel hot carrier stress on sub-1 nm equivalent oxide thickness HK/MG nMOSFET with thin titanium nitride capping layer |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | 罗维春 |
| 论文出处: | |
| 刊物名称: | Microelectronics Reliability |
| 年: | 2016 |
| 卷: | |
| 期: | 62 |
| 页: | 70 |
| 联系作者: | 杨红,王文武 |
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科研产出