论文编号: 1725110120160241
第一作者所在部门:
论文题目: Improved Single-Event Hardness of Trench Power MOSFET with a Widened Split Gate
论文题目英文:
作者: 陆江
论文出处:
刊物名称: radiation effects on components & systems conference
: 2016
:
: 2
: 12
联系作者: 陆江
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