论文编号: 1725110120160178
第一作者所在部门:
论文题目: The Statistics of Set Time of Oxide-based Resistive Switching Memory
论文题目英文:
作者: 张美芸
论文出处:
刊物名称: Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2016 IEEE 23rd International Symposium on the
: 2016
:
: 16287286
: 1946
联系作者: 龙世兵
收录类别:
影响因子:
摘要:
英文摘要:
外单位作者单位:
备注: