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  • 姓名: 尹明会
  • 性别: 女
  • 职称: 研究员
  • 职务: 
  • 学历: 博士
  • 电话: 
  • 传真: 
  • 电子邮件: yinminghui@ime.ac.cn
  • 所属部门: 中国科学院EDA中心
  • 通讯地址: 北京市朝阳区北土城西路3号

    简  历:

  • 教育背景

    2001-2005   四川大学微电子学专业   获得学士学位 

    2005-2008   四川大学微电子与固体电子学专业   获得硕士学位 

    2006-2008   中国科学院微电子研究所   联合培养 

    工作简历 

    2008.09-2010.09,中国科学院微电子研究所 研究实习员

    2010.09-2017.04,中国科学院微电子研究所 助理研究员

    2017.04-2024.12,中国科学院微电子研究所 副研究员

    2024.12-至今,中国科学院微电子研究所  研究员

    社会任职:

    研究方向:

  • 纳米芯片设计方法学及集成电路设计自动化:PDK/标准单元库/IP开发、EDA应用技术、集成电路设计技术、纳米芯片设计方法学等。

    承担科研项目情况:

  • 作为课题组长,主持和参与了国家科技重大专项、国家863项目、北京市科技计划课题、中科院先导A类项目、横向企业合作,以及国际合作项目等近20项。

    1. 低功耗碳基处理器芯片版图设计与验证, 课题负责人, 高新技术领域重点项目,2023.06--2028.06

    2. 250nm碳基集成电路器件级建模及电路设计, 项目负责人, 高新技术领域重点项目,2021.10--2024.10

    3. 碳纳米管晶体管多层级模型及PDK构建方法研究, 课题负责人, 高新技术领域重点项目,2022.10--2026.10

    4. 集成电路基础器件仿真软件与系统集成设计, 参与, 中科院A类先导专项, 2022.11--2025.10


    代表论著:

  • 发表核心期刊论文

    [1] Minghui Yin, Haitao Xu*, Zhiqiang Li*, et al. Wafer-scale carbon-based CMOS PDK compatible withsilicon-based VLSI design flow,Nano Research, 2024, 17(8): 7557-7566.

    [2] Minghui Yin*, Zhiqiang Li*, et al. Power, performance, and area evaluation across 180nm-28nm technology nodes based on benchmark circuits, IEICE, Vol.21, No.9, 1-6, 2024.

    [3] Yiying Liu, Minghui Yin*, Zhiqiang Li*, et al.Virtual_N2_PDK: A Predictive Process Design Kit for 2-nm Nanosheet FET Technology, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2025.

    [4] Minghui Yin, Lingli Zhao and Shouguo Wang, Atmospheric Pressure Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition of Borophosphosilicate Glass Films, Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), Vol.47, No.3, 2008, pp.1735–1739.

    [5] Zhao Bo, Minghui Yin*, Design of a variable precision CORDIC coprocessor for RISC-V architecture based on FinFET process, IEICE Vol.20, No.19, 1-5, 2023.

    [6] Zihao Yang, Minghui Yin*, Design of a high performance CNFET 10T SRAM cell at 5nm technology node, IEICE Vol.20, No.12, 1-6, 2023.

    [7] Lingli Zhao , Xiaojin Duan , Minghui Yin*, et al. Etching Si Wafer Using Atmospheric Pressure RF Cold Plasma Jet[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2007.

    [8] Zhaoqing Wang, Minghui Yin, et al. Analysis and characterization of layout dependent effect for advance FinFET circuit design, Microelectronics Journal, 125 (2022) 105449.

    [9] Yajie Zou, Hongwei Liu, Yiying Liu,Minghui Yin, et al. A Compact Model for Carbon Nanotube Field Effect Transistors Incorporating Temperature Effects and Application for Operational Amplifier Design[J]. ECS JSS, 2024, 13(4): 041001.

    [10] Jianglin Luo, Zhengyong Zhu, Minghui Yin, Chao Zhao, et al. Dual-gate 2T0C Gain Cell for Multi-bit Input Vector-matrix Multiplication In-Memory Computing,IEEE CSTIC 2025, march 24-25.

    9

    专利申请:

  • 1. 一种标准单元库的创建方法及系统,授权号:ZL201610721546.5

    2. 一种标准单元库全模型的测试方法及系统装置,授权号:ZL201810685359.5

    3. 一种工艺设计工具包的测试方法及装置,授权号:ZL201710542541.0

    4. 差分电路及其参数化单元的生成方法及生成系统,授权号:201510394211.2

    5. 一种增强半导体金属层可靠性的版图生成方法及系统,授权号:ZL201210359731.6

    6. 一种实现冗余金属填充模板的方法及其系统,授权号:ZL201110391549.4

    7. 一种基于Cell的层次化光学邻近效应校正方法,授权号:ZL201110082471.8

    8. 参数化单元的实现方法及由该参数化单元构成的系统,授权号:ZL201110137674.2

    9. 对精简标准单元库进行优化的方法,授权号:ZL201110082736.4

    10. 软著:版图依赖效应评估器 [简称:LDE评估器],登记号2022SR0986123,2022.05.27


    获奖及荣誉:

  • 2018年北京市科学技术奖三等奖 (排名第二)