| 专利名称: | 一种测量PIN二极管反向恢复时间的方法 |
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| 申请号: | 200610104114.6 |
| 申请日期: | 2006-07-31 |
| 专利号: | CN101118273 |
| 第一发明人: | 吴茹菲 张海英 杨 浩 |
| 其它发明人: | |
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| 专利摘要: | 本发明公开了一种测量PIN二极管反向恢复时间的方法，包括：A. 测量N区少子寿命τp，设定正反向峰值电流If和Ir的比值；B.将测量出 的N区少子寿命τp，以及设定的正反向峰值电流If和Ir的比值，代入超越 方程计算反向电流保持恒定 的存储时间tS和下降时间tf；C、计算存储时间tS和下降时间tf之和，得到 反向恢复时间toff。利用本发明，可以用常规的实验仪器测量反向恢复时间。 而用普通方法测量PIN二极管的反向恢复时间，需要正/负极性输出的快 边沿脉冲信号源和宽带示波器。同时，本发明简化了测量工序，降低了测 量的实现成本。 |
| 其它备注: | |
科研产出