专利名称: 采用氧化硅填充-回刻的交叉阵列结构有机器件制备方法
专利类别:
申请号: 200510012171.7
申请日期: 2005-07-14
专利号: CN1897322
第一发明人: 王丛舜 涂德钰 刘 明
其它发明人:
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实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 一种交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法,其工艺步骤如下: 1.
在基片表面上淀积氮化硅薄膜;2.在氮化硅薄膜表面上旋涂抗蚀剂,光
刻得到电极图形;3.利用抗蚀剂掩蔽刻蚀氮化硅薄膜;4.蒸发、剥离金
属得到交叉线下电极;5.淀积氧化硅以填充氮化硅沟槽;6.刻蚀氧化
硅至氮化硅薄膜表面;7.旋涂抗蚀剂,光刻得到上电极图形;8、蒸发、
剥离金属得到上电极;9.去除上下电极之间残留的氧化硅;10.液相法
生长有机分子材料;11.刻蚀,完成交叉线有机分子器件的制备。
其它备注: