专利名称: 一种利用反射光谱测量单晶硅基太阳能表面薄膜的方法及系统
专利类别: 发明专利
申请号: 201210281822.2
申请日期: 2012-08-09
专利号: 201210281822.2
第一发明人: 刘涛;王林梓;李国光;夏洋;Edgar Genio;马铁中
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况: 授权
专利证书号: 201210281822.2
专利摘要:
其它备注: 八室一组