集成电路的测试装置 --中国科学院微电子研究所

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专利名称:	集成电路的测试装置
专利类别:	发明专利
申请号:	201210576911.X
申请日期:	2012-12-26
专利号:	201210576911.X
第一发明人:	谢朝辉;赵明琦;王德坤;刘海南;黑勇;周玉梅
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:	授权
专利证书号:	201210576911.X
专利摘要:
其它备注:	硅器件中心

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