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国家重点研发计划青年科学家项目“面向三维集成的阻变存储器纳米尺度效应研究”中期总结会在微电子所召开

稿件来源: 发布时间:2018-08-21

  8月1日,国家重点研发计划青年科学家项目“面向三维集成的阻变存储器纳米尺度效应研究”中期总结会在微电子所召开。科技部基础研究管理中心处长闫金定出席会议。技术专家祝世宁院士、黄如院士、刘明院士、宋志棠教授、韩秀峰教授,微电子所副所长刘新宇、科技处副处长石莎莉、项目负责人吕杭炳和部分项目骨干共20多人参加会议。会议由黄如主持。 

  刘新宇代表微电子所对参会领导、专家和项目组成员表示欢迎,并简要介绍了微电子所在存储器领域的研究工作,表示全力支持该项目的后期研究。闫金定介绍了“纳米科技”重点专项项目中期检查的意义和注意事项。 

  吕杭炳从项目背景与目标、项目中期突出进展、中期执行情况、项目重要管理举措以及下一阶段工作计划等方面对项目进展情况进行了详细汇报。 

  与会专家经过讨论和质询后认为,该研究团队在过去两年时间里按照研究计划进行了系统研究,在科研成果、人才培养、项目进展等方面完成了预期任务,成绩优异,但仍需要进一步凝练研究成果,突出亮点,加强合作团队间的协作,聚焦在1-2个科学问题上集中研究,建议项目组认真准备中期检查确保顺利通过。 

 

参会人员合影

  

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