| 专利名称 | 发明人 | 申请号 | 申请日期 |
|---|---|---|---|
| 半导体器件及其制造方法 | 梁擎擎;朱慧珑;钟汇才; | 201110203389.6 | 2011-07-20 |
| 一种制作晶体管和半导体器件的方法 | 尹海洲;骆志炯;朱慧珑; | 201110083546.4 | 2011-04-02 |
| 半导体器件及其制造方法 | 尹海洲;朱慧珑;骆志炯; | 201110094967.7 | 2011-04-15 |
| 一种MOS器件及其制造方法 | 殷华湘;徐秋霞;陈大鹏; | 201110329077.X | 2011-10-26 |
| 半导体器件的制造方法 | 殷华湘;徐秋霞;孟令款;陈大鹏; | 201110215069.2 | 2011-07-29 |
| 半导体器件及其制造方法 | 殷华湘;徐秋霞;陈大鹏; | 201110215096.X | 2011-07-29 |
| 半导体器件制造方法 | 罗军;赵超;钟汇才;李俊峰;陈大鹏; | 201110391447.2 | 2011-11-30 |
| 半导体器件 | 罗军;赵超; | 201110347563.4 | 2011-11-05 |
| MOSFET及其制造方法 | 殷华湘;马小龙; | 201110322087.0 | 2011-10-20 |
| 低源漏接触电阻MOSFETs及其制造方法 | 罗军;赵超; | 201110263766.5 | 2011-09-07 |
| 高稳定性非晶态金属氧化物TFT器件 | 殷华湘;王玉光;董立军;陈大鹏; | 201110257880.7 | 2011-09-01 |
| 消除接触孔工艺中桥接的方法 | 王桂磊;李俊峰;赵超; | 201110208407.X | 2011-07-25 |
| 高精度集成电路器件测试设备 | 殷华湘;梁擎擎;钟汇才; | 201110203000.8 | 2011-07-20 |
| 多栅晶体管及其制造方法 | 罗军;赵超;李俊峰; | 201110199673.0 | 2011-07-15 |
| 多晶硅假栅移除后的监控方法 | 杨涛;赵超;李俊峰;闫江;陈大鹏; | 201110165279.5 | 2011-06-20 |
科研产出