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论文

论文题目 作者 刊物名称 发表年度
提高SOI器件和电路性能的研究 海潮和,韩郑生,周小茵,赵立新,李多力,毕津顺; 《半导体学报》 2006
A Short-Channel SOI RF Power LDMOS Technology With TiSi2 Salicide on Dual Sidewalls With Cutoff Frequency fT ~ 19.3 GHz Rong Yang, J. F. Li, H. Qian, G. Q. Lo, N. Balasubramanian, and D. L. Kwong; IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 2006
具有应变沟道及EOT 1.2nm高性能栅长22nm CMOS器件 徐秋霞,钱鹤,段晓峰,刘海华,王大海,韩郑生,刘明,陈宝钦,李海欧; 《半导体学报》 2006